Das Rasterelelektronenmikroskop oder Elektronensonde kann verwendet werden, um die Oberflächenmorphologie der Anodenbeschichtung, wie Beschichtungsrisse, qualitativer Bestimmung von Beschichtungskomponenten, Verteilungsverteilung jedes Komponentenelements in der Beschichtung auf der gesamten Elektrodenoberfläche zu beobachten und ob die Verteilung gleichförmig ist.